Book/Report

FZJ-2018-03345

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Präparation und Charakterisierung von Relaxations-Oszillatoren aus Niob-Mikrobrücken

Peter, F. (Corresponding author)FZJ*

1990
Forschungszentrum Jülich GmbH Zentralbibliothek, Verlag Jülich

Please use a persistent id in citations: http://hdl.handle.net/2128/18825

Report No.: Juel-2399

Abstract: Aus dünnen gesputterten Nb-Schichten wurden mittels Elektronenstrahl-Lithographie Nanobrücken mit Breiten zwischen 65 nm und 1 $\mu$m hergestellt. Diese Nanobrücken wurden mit normalleitenden, lithographisch strukturierten Cu-Streifen oder dünnen Al-Bonddrähten induktiv geshuntet und als Relaxations-Oszillatoren betrieben. Mit einzelnen Relaxations-Oszillatoren konnten Frequenzen bis zu 800 MHz erreicht werden. Der Spannungsverlauf, sowie die Pulsdauer, das Tastverhältnis und die Frequenz der Oszillationen wurden jeweils in Abhängigkeit vom Betriebsstrom berechnet. Zum Zwecke der Frequenzvervielfachung wurden mehrere Oszillatoren phasenrichtig miteinander gekoppelt und als Reihen- oder Ringoszillatoren betrieben. Die phasenrichtige Kopplung geschah durch eine Verzögerungsleitung, bestehend aus einer supraleitenden Mikrostreifenleitung. Für die Herstellung dieser Leitung wurde auf ein Silizium-Substrat zunächst eine Schicht Niob gesputtert, die teilweise naßanodisiert wurde und das Dielektrikum für die darauf aufgebrachte Streifenleitung bildete. Um die Frequenz einzelner Oszillatoren zu regeln, wurde die Möglichkeit der I$_{c}$-Änderung der Mikrobrücke durch das Feld einer kleinen Spule untersucht. Auf diese Weise konnten Frequenzerhöhungen von über 60 % - ausgehend von einer durch den Betriebsstrom des Oszillators vorgegebenen Grundfrequenz - erreicht werden.

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Contributing Institute(s):

1. Publikationen vor 2000 (PRE-2000)

Research Program(s):

1. 899 - ohne Topic (POF3-899) (POF3-899)

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Database coverage:

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